MEB - EDX

Microscope Electronique à Balayage Environnemental (ESEM) couplée à une microsonde X dispersive en énergie (EDX)

Mode High-Vac et Low-Vac pour échantillon conducteur et isolant - Détecteur d'électrons secondaires et rétrodiffusés (contraste topographique et chimique) - Analyse chimique semi-quantitative EDX (mode pointé, cartographie, détection à partir du Bore)

ICP - MS

Spectromètre ICP MS équipé d’une DRC (Dynamic Reaction Cell)

Quadripôle, limite de détection jusqu'au ppt, système d'injection Teflon pour solution HF, rapport isotopique

ICP AES

Spectromètre d’émission atomique ICP AES Double Visée Axiale et Radiale

Système simultané, système d'injection Teflon pour solution HF, système d'injection pour matrice fortement chargée, analyse de solution organique

Spectro Etincelage

Spectromètre d'Emission Optique stationnaire (SEO) ou Spectromètre d'étincelage pour analyse des métaux

Base Fer, base Aluminium, base cuivre. Analyse de massif : surface supérieure à 1 cm2 et épaisseur supérieure à 0,5 mm

Analyseur élémentaire

Analyseur élémentaire C / S, N / O et H

Analyse C / S par combustion sèche et détection infrarouge, analyse N / O par thermoconductivité et détection infrarouge, analyse H par combustion et thermoconductivité