Méthode de quantification par affinement selon la méthode de Rietveld
Base de données ICDD / JCPD
MEB - EDX
Microscope Electronique à Balayage Environnemental (ESEM) couplée à une microsonde X dispersive en énergie (EDX)
Mode High-Vac et Low-Vac pour échantillon conducteur et isolant - Détecteur d'électrons secondaires et rétrodiffusés (contraste topographique et chimique) - Analyse chimique semi-quantitative EDX (mode pointé, cartographie, détection à partir du Bore)
GC - MS
Chromatographie en phase Gazeuse couplée à un Spectromètre de Masse Ionisation par Impact Electronique / Simple Quadripôle
Injecteur PTV - S/SL, Mode Single Ion Monitoring SIR, Ionisation par Impact electronique, Analyseur Quadripôle, Passeur automatique 82 vials
Echantillonneur de type espace de tête statique, passeur d'échantillons 40 vials
ICP - MS
Spectromètre ICP MS équipé d’une DRC (Dynamic Reaction Cell)
Quadripôle, limite de détection jusqu'au ppt, système d'injection Teflon pour solution HF, rapport isotopique
DSC
Calorimètre différentiel modulé (DSC) à flux de chaleur
Gamme de température : -20°C à 450°C, Vitesse de chauffe de 0,01 à 100 °C / min
Votre interlocuteur
Emmanuel BUIRET emmanuelbuiret@filab.fr
Les plus FILAB
Des équipements performants et fiables (le parc d'équipments a été entièrement renouvelé au cours des 3 dernières années) La réactivité : de la prise en charge de la demande à la restitution des résultats
La diversité d'équipements de pointe Des équipements automatisés permettant des analyses en série
Une excellente expérience des matrices d'origines variées Des délais adaptables selon vos besoins
Un interlocuteur technique comme correspondant direct
