Microscope Electronique à Balayage Environnemental (ESEM) couplée à une microsonde X dispersive en énergie (EDX)
Mode High-Vac et Low-Vac pour échantillon conducteur et isolant - Détecteur d'électrons secondaires et rétrodiffusés (contraste topographique et chimique) - Analyse chimique semi-quantitative EDX (mode pointé, cartographie, détection à partir du Bore)
LC - MS
Chromatographie en phase Liquide couplée à un Spectromètre de Masse
Spectromètre de masse triple quadripôle
Source d'ionisation APCI HESI et APCI
GC - MS
Chromatographie en phase Gazeuse couplée à un Spectromètre de Masse Ionisation par Impact Electronique / Simple Quadripôle
Injecteur PTV - S/SL, Mode Single Ion Monitoring SIR, Ionisation par Impact electronique, Analyseur Quadripôle, Passeur automatique 82 vials
ICP - MS
Spectromètre ICP MS équipé d’une DRC (Dynamic Reaction Cell)
Quadripôle, limite de détection jusqu'au ppt, système d'injection Teflon pour solution HF, rapport isotopique
Votre interlocuteur
Jérôme GOUX
Les plus FILAB
Un accompagnement personnalisé dans l'interprétation de vos résultats
La mise en place de méthodologies et de protocoles analytiques innovants et adaptés à votre problématique
Des outils de diagnostic rapide (MEB) permettant d'obtenir des premiers résultats en quelques heures
Un spécialiste pour prendre en charge votre demande et élaborer une offre sur mesure Un agrément organisme de formation
La restitution des résultats sous la forme de rapports d'expertise illustrés
