Jérome GOUX
Wissenschaftlicher Direktor
jeromegoux(at)filab.fr

Tel. +33 3 80 52 32 05
FILAB SAS
13 rue Pauline Kergomard
BP37460
21000 DIJON
FRANCE

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DRX
DRX MINIFLEX II
Quelle: Kupfer
Angle: 0 bis 120 °
Verfahren nach Quantisierung durch Verfeinerung der Rietveld-Methode
ICDD Datenbank / JCPD
REM – EDX
Environmental scanning electron microscope (ESEM) gekoppelt an eine Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX)
 
Hoch- und Niedervakuum-Betrieb für Probe Leiter und Isolator - Detektor für Sekundärelektronen mit Wechselwirkung (chemische und topographische Kontraste) – Halbquantitative chemische Analyse EDX (Punktanalyse, Kartographie, Bor-Detektion)
LC - MS - MS
Flüssigchromatographie mit Massenspektrometrie-Kopplung
Triple Quadrupol-Massenspektrometer 
Ionenquelle APCI HESI und APCI
GC – MS
Gaschromatographie mit Massenspektrometrie-Kopplung
Elektronenstoßionisation / Einfach-Quadrupol
 
PTV - S/SL-Injektor, Modus Single Ion Monitoring SIR, Elektronenstoßionisation, Quadrupol-Analysator, Probenwechsler 82 Vials
GC-FID
Gaschromatographie gekoppelt mit Flammenionisations-Detektor PTV Split/Splitless
 
PTV - S/SL-Injektor,  Probenwechsler 82 Vials
DTA
Thermodesorber
 
Automatischer Thermodesorber, Probenwechsler 50 Proben
HS-TRAP
Head-Space 
Probennehmer für statische Headspace-Analytik, Probenwechsler 40 Vial
IC Ionen-Flüssigchromatographie
ICP – MS
Massenspektrometer mit induktiv gekoppeltem Plasma, ausgestattet mit einer dynamischen Reaktionszelle
Quadrupol, Nachweisgrenze bis zu ppt, Teflon-Injektionssystem für HF-Lösung, Isotopenverhältnis
ICP AES
Atomemissionsspektrometer ICP AES Axial- und Radialaufnahme 
 
Simultanverfahren, Teflon-Injektionssystem für HF-Lösung, Injektionssystem für stark geladene Matrix, Analyse organischer Lösungen
Funkenspektroskopie
Stationäres Optisches Emissionsspektrometer (OES) oder Funkenspektroskopie für  die Metallanalyse
 
Eisenbasis, Aluminiumbasis, Kupferbasis. Massiv-Analyse : Oberfläche über 1 cm2 und Dicke über 0,5 mm
Elementaranalysator
Elementaranalysator C / S, N / O und H
 
C / S-Analyse durch Trockenverbrennung und Infrarot-Detektion, N / O-Analyse durch Thermoleitfähigkeit und Infrarot-Detektion, H-Analyse durch Verbrennung und Thermoleitfähigkeit
FTIR
Fourier-Transformations-Infrarotspektrometer
 
Wellenzahl 7500 bis 370 cm-1, Auflösung < bis 1 cm-1, ATR-Kristall aus Diamant