|
Jérome GOUX
Wissenschaftlicher Direktor
jeromegoux(at)filab.fr
Tel. +33 3 80 52 32 05
AnfahrtsskizzeFILAB SAS 13 rue Pauline Kergomard BP37460 21000 DIJON FRANCE
|
DRX
DRX MINIFLEX II
Quelle: Kupfer
Angle: 0 bis 120 °
Verfahren nach Quantisierung durch Verfeinerung der Rietveld-Methode
ICDD Datenbank / JCPD
REM – EDX
Environmental scanning electron microscope (ESEM) gekoppelt an eine Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX)
Hoch- und Niedervakuum-Betrieb für Probe Leiter und Isolator - Detektor für Sekundärelektronen mit Wechselwirkung (chemische und topographische Kontraste) – Halbquantitative chemische Analyse EDX (Punktanalyse, Kartographie, Bor-Detektion)
LC - MS - MS
Flüssigchromatographie mit Massenspektrometrie-Kopplung
Triple Quadrupol-Massenspektrometer
Ionenquelle APCI HESI und APCI
GC – MS
Gaschromatographie mit Massenspektrometrie-Kopplung
Elektronenstoßionisation / Einfach-Quadrupol
PTV - S/SL-Injektor, Modus Single Ion Monitoring SIR, Elektronenstoßionisation, Quadrupol-Analysator, Probenwechsler 82 Vials
GC-FID
Gaschromatographie gekoppelt mit Flammenionisations-Detektor PTV Split/Splitless
PTV - S/SL-Injektor, Probenwechsler 82 Vials
DTA
Thermodesorber
Automatischer Thermodesorber, Probenwechsler 50 Proben
ICP – MS
Massenspektrometer mit induktiv gekoppeltem Plasma, ausgestattet mit einer dynamischen Reaktionszelle
Quadrupol, Nachweisgrenze bis zu ppt, Teflon-Injektionssystem für HF-Lösung, Isotopenverhältnis
ICP AES
Atomemissionsspektrometer ICP AES Axial- und Radialaufnahme
Simultanverfahren, Teflon-Injektionssystem für HF-Lösung, Injektionssystem für stark geladene Matrix, Analyse organischer Lösungen
Funkenspektroskopie
Stationäres Optisches Emissionsspektrometer (OES) oder Funkenspektroskopie für die Metallanalyse
Eisenbasis, Aluminiumbasis, Kupferbasis. Massiv-Analyse : Oberfläche über 1 cm2 und Dicke über 0,5 mm
Elementaranalysator
Elementaranalysator C / S, N / O und H
C / S-Analyse durch Trockenverbrennung und Infrarot-Detektion, N / O-Analyse durch Thermoleitfähigkeit und Infrarot-Detektion, H-Analyse durch Verbrennung und Thermoleitfähigkeit
FTIR
Fourier-Transformations-Infrarotspektrometer
Wellenzahl 7500 bis 370 cm-1, Auflösung < bis 1 cm-1, ATR-Kristall aus Diamant
|















