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Parc Mazen Sully
13, rue Pauline Kergomard BP 37460 - 21074 DIJON CEDEX FRANCE Tél. +33 (0)3 80 52 32 05 Fax +33 (0)3 80 52 01 11 Plan d'accès
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DRX
DRX MINIFLEX II
Source : Cuivre
Plage angulaire : 0 à 120 °
Méthode de quantification par affinement selon la méthode de Rietveld
Base de données ICDD / JCPD
MEB - EDX
Microscope Electronique à Balayage Environnemental (ESEM) couplée à une microsonde X dispersive en énergie (EDX)
Mode High-Vac et Low-Vac pour échantillon conducteur et isolant - Détecteur d'électrons secondaires et rétrodiffusés (contraste topographique et chimique) - Analyse chimique semi-quantitative EDX (mode pointé, cartographie, détection à partir du Bore) 
LC - MS - MS
Chromatographie en phase Liquide couplée à un Spectromètre de Masse
Spectromètre de masse triple quadripôle Source d'ionisation APCI HESI et APCI 
GC - MS
Chromatographie en phase Gazeuse couplée à un Spectromètre de Masse Ionisation par Impact Electronique / Simple Quadripôle
Injecteur PTV - S/SL, Mode Single Ion Monitoring SIR, Ionisation par Impact electronique, Analyseur Quadripôle, Passeur automatique 82 vials 
GC-FID
Chromatographie en phase Gazeuse couplée à un détecteur à Iinisation de Flamme Injecteur PTV Split/Splitless
Injecteur PTV - S/SL, Passeur automatique 82 vials
ATD
Thermodésorbeur
Désorbeur thermique automatique, Passeur automatique 50 échantillons 
HS-TRAP
Head-Space (Espace de tête)
Echantillonneur de type espace de tête statique, passeur d'échantillons 40 vials 
CLI
Chromatographie Liquide Ionique
ICP - MS
Spectromètre ICP MS équipé d’une DRC (Dynamic Reaction Cell)
Quadripôle, limite de détection jusqu'au ppt, système d'injection Teflon pour solution HF, rapport isotopique 
ICP AES
Spectromètre d’émission atomique ICP AES Double Visée Axiale et Radiale
Système simultané, système d'injection Teflon pour solution HF, système d'injection pour matrice fortement chargée, analyse de solution organique 
Spectro Etincelage
Spectromètre d'Emission Optique stationnaire (SEO) ou Spectromètre d'étincelage pour analyse des métaux
Base Fer, base Aluminium, base cuivre. Analyse de massif : surface supérieure à 1 cm2 et épaisseur supérieure à 0,5 mm 
Analyseur élémentaire
Analyseur élémentaire C / S, N / O et H
Analyse C / S par combustion sèche et détection infrarouge, analyse N / O par thermoconductivité et détection infrarouge, analyse H par combustion et thermoconductivité 
IRTF
Spectrophotomètre Infra-Rouge à Transformée de Fourier
Gamme d'enregistrement 7500 à 370 cm-1, résolution < à 1 cm-1, ATR avec cristal de diamant 
DSC
Calorimètre différentiel modulé (DSC) à flux de chaleur
Gamme de température : -20°C à 450°C, Vitesse de chauffe de 0,01 à 100 °C / min 
RMN
Spectromètre RMN BRUKER 300, 500 et 600 MHz
Sonde 5mm inverse "BBI" large bande ATMA gradient Z, sonde HR-MAS dual 1H et 13C 4 mm, unité de température pour enregistrement de 200 à 400°K 
Spectrométrie de masse
Spectromètre de Masse MALDI-TOF et MicroTOF-Q
Electrospray, détermination de masse exacte, analyse isotopique MS/MS |
